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紫外可見分光光度計

紫外可見分光光度計

簡要描述:波長范圍:190-1100nm 波長準確度:±1nm(系統(tǒng)自動校正) 波長重復性:0.5nm 波長設(shè)置方式:自動

產(chǎn)品型號: SP-754PC

所屬分類:分光光度計

更新時間:2024-08-19

詳細說明:

SP-754PC型紫外可見分光光度計是基于SP-754型的基礎(chǔ)上,利用計算機的強大資源和MS-Windows平臺豐富的功能開發(fā)設(shè)計的具有光譜掃描功能的新一代紫外可見分光光度計。儀器除了保留針對生命科學領(lǐng)域所需的性能外,同時通過計算機可實現(xiàn)光譜掃描、光度分析、定量分析和動力學分析等多種應用功能和數(shù)據(jù)處理功能。您不必花高價,買價格昂貴的進口產(chǎn)品,“上海光譜"的SP-754PC型的解決方案可以滿足您的需求。

主要特點
· 190-1100nm波長范圍,可獲得從近紫外至近紅外的光譜范圍。
· 每小時誤差不超過0.002A穩(wěn)定性性能,可滿足動力學分析對儀器精度的要求
· 可測試zui小至50微升的樣品(需選購微量比色池、架),滿足DNA定量分析的要求;
· 儀器具有開機自檢,自動校正波長和能量測試等智能功能,確保您每次使用時,儀器處于*測試狀態(tài)
· 多樣化、系列化的附件滿足各個行業(yè)各種應用領(lǐng)域特殊需要,擴大和延伸儀器的應用能力

技術(shù)指標
光學系統(tǒng):單光束自準式光路,1200條/毫米高性能光柵
顯示系統(tǒng):2×20字節(jié)液晶顯示器
波長范圍:190-1100nm
波長準確度:±1nm(系統(tǒng)自動校正)
波長重復性:0.5nm
波長設(shè)置方式:自動
光譜帶寬:4nm點擊查看詳圖
雜散光:≤0.3%T(在220nm 和340nm處)
光度顯示范圍:0%T to 125.0%T, -0.097 to 3.000A, 0C to 9999C(0-9999F)
光度準確度:±0.5%T
光度重復性:0.3%T
穩(wěn)定性:±0.002A/小時(500nm處,預熱一小時)
基線平直度:±0.004A
數(shù)據(jù)輸出接口:模擬接口,RS-232C接口
電源要求:220VAC, ±10%,   50Hz, ±10%
外型尺寸:475 ´420´180mm
儀器重量:11kg

軟件功能Win-SP5.2(基本版)
光度分析:吸光度、透射比、濃度測定
光譜分析:光譜掃描
定量分析:標準曲線法
動力學分析:時間掃描

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