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集鍍層厚度測量和材料測試與一體，F(xiàn)ISCHERSCOPE® MMS® PC是一款簡潔并極其通用的臺式多功能測量系統(tǒng)帶數(shù)據(jù)檔案和測量數(shù)據(jù)處理能力。可用于手工的樣品檢測，以及過程控制和生產過程中的晝夜監(jiān)控。可配合品種繁多的測量探頭以適用于各種不同幾何形狀和測量范圍的測試工件
測量快速，重復性好 大部分材料上無需校準 調零功能可應用在粗糙不平的表面及曲面上 無法調零時可使用方便的重啟功能 堅固耐磨損的紅寶石探頭
1．金屬上的各種皮膜(鋁上氧化膜，鐵上鍍鋅、鉻等的電鍍、涂裝)或非金屬上的各種金屬 (塑膠上的鍍層等)可以在短時間內非破壞測量其厚度，適合各種檢測 2．由于使用電腦，校正、測定等操作相當簡單，可以直接選取各種測量模式。螺絲頂部、線材 等小部件和壓鑄件制品同樣可容易測定。
1、各種鍍層(多層、合金)的精密測量； 2、除平板形外，還可以通過提供的圖表測量圓形、棒形(細線)等各種形狀 3、可高精度測量其它方式不易測量的三層以上的鍍層； 4、可制作非破壞式膜厚儀的標準板；
TM1200涂層測厚儀 鐵和鋼上的銅、鋅、鎘、鉻鍍層和油漆層等。又可測量非導磁金屬基體上非導電履蓋層厚度。例如:測量鋁的陽極氧化層以及鋁、銅、鋅等材料表面上油漆、噴塑和橡膠履蓋層的厚度。
